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Analyse de surface

  • Niveau d'étude

    BAC +4

  • Composante

    UFR Sciences et Techniques

Description

Chap. I : Introduction à la microscopie électronique

  • Notion de longueur d’onde et de résolution
  • Les différents types d’interactions e- / matière
  • Les différents types de signaux émis depuis la surface

Chap. II : les composants du microscope électronique à balayage

  • Les systèmes de vide
  • Les sources électroniques
  • Les lentilles électromagnétiques
  • Les aberrations du faisceau
  • Les systèmes de détection des signaux

Chap. III : la formation de l’image

  • Notion de balayage, grandissement, résolution de l’image
  • Profondeur de champ
  • Effets des paramètres instrumentaux
  • Imagerie SE et BSE
  • Limitations et solutions

Chap. IV : les techniques annexes au MEB

  • Spectroscopie par dispersion d’énergie (EDS)
  • Cathodoluminescence
  • Micro-usinage par FIB
  • Caractérisation d’orientation : la technique « EBSD ».
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Objectifs

Ce cours apporte les connaissances nécessaires à la compréhension du fonctionnement d’un microscope électronique à balayage. Il aborde notamment le principe de l’interaction électron-matière, à l’origine des signaux utilisés pour imager et analyser la surface d’un échantillon. Il apporte enfin les notions théoriques utiles à la pratique expérimentale du MEB en TP.

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Pré-requis obligatoires

  • Notions d’optique
  • Notions de cristallographie
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Contrôle des connaissances

QCM individuel

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Compétences visées

  • Comprendre les mécanismes à l'origine de la formation de l’image en microscopie électronique à balayage
  • Aborder les différentes techniques expérimentales disponibles en MEB pour étudier la matière 
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