Niveau d'étude
BAC +4
Composante
UFR Sciences et Techniques
Description
Chap. I : Introduction à la microscopie électronique
- Notion de longueur d’onde et de résolution
- Les différents types d’interactions e- / matière
- Les différents types de signaux émis depuis la surface
Chap. II : les composants du microscope électronique à balayage
- Les systèmes de vide
- Les sources électroniques
- Les lentilles électromagnétiques
- Les aberrations du faisceau
- Les systèmes de détection des signaux
Chap. III : la formation de l’image
- Notion de balayage, grandissement, résolution de l’image
- Profondeur de champ
- Effets des paramètres instrumentaux
- Imagerie SE et BSE
- Limitations et solutions
Chap. IV : les techniques annexes au MEB
- Spectroscopie par dispersion d’énergie (EDS)
- Cathodoluminescence
- Micro-usinage par FIB
- Caractérisation d’orientation : la technique « EBSD ».
Objectifs
Ce cours apporte les connaissances nécessaires à la compréhension du fonctionnement d’un microscope électronique à balayage. Il aborde notamment le principe de l’interaction électron-matière, à l’origine des signaux utilisés pour imager et analyser la surface d’un échantillon. Il apporte enfin les notions théoriques utiles à la pratique expérimentale du MEB en TP.
Pré-requis obligatoires
- Notions d’optique
- Notions de cristallographie
Contrôle des connaissances
QCM individuel
Compétences visées
- Comprendre les mécanismes à l'origine de la formation de l’image en microscopie électronique à balayage
- Aborder les différentes techniques expérimentales disponibles en MEB pour étudier la matière